|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2012 |
| 1. |
М. Н. Дроздов, Ю. Н. Дроздов, В. Н. Полковников, С. Д. Стариков, П. А. Юнин, “Новая альтернатива вторичным ионам CsM+ для послойного анализа многослойных металличеcких структур методом вторично-ионной масс-спектрометрии”, Письма в ЖТФ, 38:24 (2012), 75–85   ; M. N. Drozdov, Yu. N. Drozdov, V. N. Polkovnikov, S. D. Starikov, P. A. Yunin, “A new alternative to secondary CsM$^+$ ions for depth profiling of multilayer metal structures by secondary ion mass spectrometry”, Tech. Phys. Lett., 39:1 (2013), 46–50 |
3
|
|
