|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2025 |
| 1. |
Н. И. Стаськов, А. А. Сергейчик, А. Б. Сотский, А. Н. Петлицкий, В. А. Пилипенко, Л. И. Сотская, Д. В. Понкратов, Е. А. Чудаков, А. В. Шилов, “Оптические характеристики легированных бором кремниевых пластин после быстрого термического отжига”, Оптика и спектроскопия, 133:8 (2025), 874–880   |
|
2021 |
| 2. |
Н. И. Стаськов, А. Б. Сотский, Л. И. Сотская, Н. В. Гапоненко, Е. И. Лашковская, А. Н. Петлицкий, А. А. Козлов, “Оптические характеристики неоднородного слоя титаната бария, легированного европием”, Оптика и спектроскопия, 129:4 (2021), 506–511 ; N. I. Stas’kov, A. B. Sotski, L. I. Sotskaya, N. V. Gaponenko, E. I. Lashkovskaya, A. N. Pyatlitski, A. A. Kozlov, “Optical characteristics of a europium-doped barium titanate inhomogeneous layer”, Optics and Spectroscopy, 129:5 (2021), 586–591 |
|
2020 |
| 3. |
А. Б. Сотский, С. С. Михеев, Н. И. Стаськов, Л. И. Сотская, “Спектроскопия слоев на плоскопараллельных подложках”, Оптика и спектроскопия, 128:8 (2020), 1133–1143 ; A. B. Sotski, S. S. Mikheev, N. I. Stas’kov, L. I. Sotskaya, “Spectrophotometry of layers on plane parallel substrates”, Optics and Spectroscopy, 128:8 (2020), 1155–1166 |
2
|
|
2018 |
| 4. |
Н. И. Стаськов, А. Б. Сотский, Л. И. Сотская, И. В. Ивашкевич, А. И. Кулак, Н. В. Гапоненко, М. В. Руденко, А. Н. Петлицкий, “Оптические характеристики пленок титаната стронция, полученных золь-гель методом”, Оптика и спектроскопия, 125:4 (2018), 473–478 ; N. I. Stas’kov, A. B. Sotski, L. I. Sotskaya, I. V. Ivashkevich, A. I. Kulak, N. V. Gaponenko, M. V. Rudenko, A. N. Pyatlitski, “Optical characteristics of strontium titanate films obtained by the sol–gel method”, Optics and Spectroscopy, 125:4 (2018), 492–498 |
3
|
|
2015 |
| 5. |
Н. И. Стаськов, “Аналитическое решение обратной спектрофотометрической задачи для прозрачного слоя на поглощающей подложке”, ПФМТ, 2015, № 4(25), 31–37 |
| 6. |
Н. И. Стаськов, С. О. Парашков, А. В. Шилов, Н. А. Крекотень, “Аналитическое решение обратной задачи спектрофотометрии для поглощающего слоя на поглощающей подложке с диэлектрическим слоем”, ПФМТ, 2015, № 3(24), 33–37 |
|
2013 |
| 7. |
Н. И. Стаськов, И. В. Ивашкевич, Н. А. Крекотень, “Эллипсометрия переходных слоев полупроводник–диэлектрик”, ПФМТ, 2013, № 2(15), 18–24 |
1
|
|
2012 |
| 8. |
Н. И. Стаськов, И. В. Ивашкевич, А. Б. Сотский, Л. И. Сотская, “Учет влияния естественного поверхностного слоя при исследовании кремниевых пластин методом
спектральной эллипсометрии”, ПФМТ, 2012, № 1(10), 26–30 |
1
|
|
