Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 1986, том 20, выпуск 9, страницы 1742–1745 (Mi phts404)  

Краткие сообщения

Исследование влияния рентгеновского излучения на фотоэлектрические свойства АФН пленок

Н. Абдуллаев
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Н. Абдуллаев, “Исследование влияния рентгеновского излучения на фотоэлектрические свойства АФН пленок”, Физика и техника полупроводников, 20:9 (1986), 1742–1745
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{1}
\by Н.~Абдуллаев
\paper Исследование влияния рентгеновского излучения на фотоэлектрические
свойства АФН пленок
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 1986
\vol 20
\issue 9
\pages 1742--1745
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts404}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts404
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v20/i9/p1742
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025