|
|
Физика и техника полупроводников, 1987, том 21, выпуск 1, страницы 129–133
(Mi phts535)
|
|
|
|
Распространение включенного состояния в арсенид-галлиевых тиристорах
С. Н. Вайнштейн, Ю. В. Жиляев, М. Е. Левинштейн
Аннотация:
В арсенид-галлиевых тиристорных структурах впервые
измерена основная зависимость, характеризующая процесс распространения
включенного состояния, — зависимость скорости распространения $v$
от плотности тока $j$. В структурах с плотностью критического заряда
${n_{c}\sim10^{13}\,\text{см}^{-3}}$ зарегистрировано значение
${v\cong10^{6}}$ см/с, на порядок большее, чем когда-либо наблюдавшееся
в кремниевых тиристорах. Значению ${n_{c}\sim10^{13}\,\text{см}^{-3}}$
соответствовала величина плотности тока
${j_{0}\sim5\cdot10^{-2}\,\text{А/см}^{2}}$
($j_{0}$ — плотность тока, при которой включенное состояние
не распространяется, занимая лишь часть площади тиристора). В структурах со значением ${n_{c}\sim10^{16}\,\text{см}^{-3}}$
(${j_{0}\sim10\,\text{А/см}^{2}}$),
характерным для мощных силовых тиристоров, зарегистрировано значение
${v\simeq 5\cdot10^{5}}$ см/с, в 25 раз большее, чем в кремниевых
тиристорах с близкими значениями $n_{c}$. Обнаружены и проанализированы существенные расхождения
между экспериментальными и теоретически рассчитанными зависимостями $v(j)$.
Образец цитирования:
С. Н. Вайнштейн, Ю. В. Жиляев, М. Е. Левинштейн, “Распространение включенного состояния в арсенид-галлиевых тиристорах”, Физика и техника полупроводников, 21:1 (1987), 129–133
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts535 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v21/i1/p129
|
| Статистика просмотров: |
| Страница аннотации: | 96 | | PDF полного текста: | 42 |
|