|
XVI Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения" - 2018 (ISCTA 2018), Санкт-Петербург, 8-12 октября 2018 г.
Термоэлектрические свойства твердого раствора $n$-Mg$_{2}$(SiGe)$_{0.8}$Sn$_{0.2}$
Г. Н. Исаченкоa, А. Ю. Самунинa, П. П. Константиновa, А. А. Касьяновb, А. М. Масалимовb a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики
Аннотация:
Высокие значения термоэлектрической добротности ($ZT$ = 1.5) в твердых растворах Mg$_{2}$Si–Mg$_{2}$Sn обусловлены низкой теплопроводностью и сложной зонной структурой, оптимальной при соотношении компонентов твердого раствора 40% Mg$_{2}$Si на 60% Mg$_{2}$Sn. Однако присутствие в большой концентрации станнида магния ухудшает механические характеристики и снижает химическую стабильность материала, ограничивая возможность его применения при высоких температурах. Силицид магния обладая более высокой стабильностью, проигрывает в термоэлектрической добротности. В твердых растворах со стороны силицида магния $ZT$ значительно ниже, составляет величины $\sim$1. Возможность повысить $ZT$ в твердом растворе Mg$_{2}$Si$_{0.8}$Sn$_{0.2}$ при дополнительном включении небольшого количества Mg$_{2}$Ge исследовано в данной работе. Образцы твердого раствора Mg$_{2}$(Si$_{1-x}$Ge$_{x}$)$_{0.8}$Sn$_{0.2}$ ($x<$ 0.03) приготовлены методом горячего прессования. Измерены температурные зависимости коэффициента термоэдс, электропроводности и теплопроводности. Показано увеличение термоэлектрической добротности до $ZT$ = 1.1 при 800 K в твердом растворе Mg$_{2}$Si$_{0.78}$Ge$_{0.02}$Sn$_{0.2}\langle\mathrm{Sb}\rangle$.
Поступила в редакцию: 20.12.2018 Исправленный вариант: 24.12.2018 Принята в печать: 28.12.2018
Образец цитирования:
Г. Н. Исаченко, А. Ю. Самунин, П. П. Константинов, А. А. Касьянов, А. М. Масалимов, “Термоэлектрические свойства твердого раствора $n$-Mg$_{2}$(SiGe)$_{0.8}$Sn$_{0.2}$”, Физика и техника полупроводников, 53:5 (2019), 612–615; Semiconductors, 53:5 (2019), 607–610
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts5504 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i5/p612
|
|