|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники
Энергия связи пластин кремния и сапфира при повышенных температурах соединения
И. Е. Тысченко, Э. Д. Жанаев, В. П. Попов Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
Аннотация:
Изучены гидрофильность поверхности и энергия связи пластин кремния и сапфира при температуре соединения 50$^\circ$C. Установлено, что нагрев пластин Si и Al$_{2}$O$_{3}$ до 50$^\circ$C сопровождается ростом степени гидрофильности их поверхностей. Эффект объясняется улучшением степени чистоты поверхности за счет десорбции примесных атомов в вакуум и увеличением плотности оборванных связей. Обнаружен рост энергии связи пластин кремния и сапфира при температуре соединения 50$^\circ$C и последующем нагреве в интервале 100–250$^\circ$C по сравнению с ее значениями при соединении при комнатной температуре. Определена энергия активации роста энергии связи, которая составила 0.57 эВ.
Поступила в редакцию: 19.03.2018 Исправленный вариант: 29.03.2018
Образец цитирования:
И. Е. Тысченко, Э. Д. Жанаев, В. П. Попов, “Энергия связи пластин кремния и сапфира при повышенных температурах соединения”, Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 65–69; Semiconductors, 53:1 (2019), 60–64
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts5613 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v53/i1/p65
|
|