|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
XXII Международный симпозиум ''Нанофизика и наноэлектроника'', Нижний Новгород, 12-15 марта, 2018 г.
Гетероструктуры с InAs/AlAs квантовыми ямами и квантовыми точками, выращенные на гибридных подложках GaAs/Si
Д. С. Абрамкинab, М. О. Петрушковa, М. А. Путятоa, Б. Р. Семягинa, Т. С. Шамирзаевacb a Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
b Новосибирский государственный университет
c Уральский федеральный университет, г. Екатеринбург
Аннотация:
Гетероструктуры с InAs/AlAs-квантовыми точками выращены на гибридных подложках GaAs/Si. В низкотемпературных (5–80 K) спектрах фотолюминесценции гетероструктур InAs/AlAs/GaAs/Si наблюдаются полосы, связанные с рекомбинацией экситонов в квантовых точках и смачивающем слое – тонкой квантовой яме, лежащей в основании массива квантовых точек. Температурное гашение фотолюминесценции квантовых точек обусловлено прямым захватом носителей заряда на дефекты в AlAs-матрице, локализованных в окрестности квантовых точек.
Поступила в редакцию: 25.04.2018 Принята в печать: 07.05.2018
Образец цитирования:
Д. С. Абрамкин, М. О. Петрушков, М. А. Путято, Б. Р. Семягин, Т. С. Шамирзаев, “Гетероструктуры с InAs/AlAs квантовыми ямами и квантовыми точками, выращенные на гибридных подложках GaAs/Si”, Физика и техника полупроводников, 52:11 (2018), 1373–1379; Semiconductors, 52:11 (2018), 1484–1490
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts5698 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v52/i11/p1373
|
|