|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
XV Международная конференция ''Термоэлектрики и их применения-2016'', Санкт-Петербург, 15-16 ноября 2016 г.
Электрохимические исследования процессов легирования медью слоистых кристаллов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)]$_{m}$[(Bi,Sb)$_{2}$(Te,Se)$_{3}]_{n}$ ($m,n$ = 0,1,2 $\dots$)
М. А. Кретова, М. А. Коржуев, Е. С. Авилов Институт металлургии и материаловедения им. А. А. Байкова РАН, Москва, Россия
Аннотация:
Изучены процессы интеркаляции меди в ван-дер-ваальсовы (VdW) щели слоистых тройных сплавов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)]$_{m}$[(Bi,Sb)$_{2}$(Te,Se)$_{3}]_{n}$ ($m,n$ = 0,1,2 $\dots$), изменяющие электрические, механические и другие физические свойства образцов. Обнаружено пропорциональное снижение концентрации интеркалированной меди $\Delta N_{\operatorname{Cu}}$ при уменьшении относительной объемной плотности щелей Ван-дер-Ваальса $D_{\operatorname{VdW}}=1/s$ с ростом слойности пакетов $s$, а также их толщины $\xi_{1}$ при изменении состава тройных сплавов.
Поступила в редакцию: 27.12.2016 Принята в печать: 12.01.2017
Образец цитирования:
М. А. Кретова, М. А. Коржуев, Е. С. Авилов, “Электрохимические исследования процессов легирования медью слоистых кристаллов семейства [(Ge,Sn,Pb)(Te,Se)]$_{m}$[(Bi,Sb)$_{2}$(Te,Se)$_{3}]_{n}$ ($m,n$ = 0,1,2 $\dots$)”, Физика и техника полупроводников, 51:7 (2017), 937–939; Semiconductors, 51:7 (2017), 898–901
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6104 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v51/i7/p937
|
|