|
XXVII Международный симпозиум " Нанофизика и наноэлектроника" , Н. Новгород, 13 - 16 марта 2023г.
ГКР-активные подложки на основе внедренных наночастиц Ag в объем $c$-Si: моделирование, технология, применение
А. А. Ерминаa, Н. С. Солодовченкоb, К. В. Пригодаac, В. С. Левицкийd, С. И. Павловa, Ю. А. Жароваa a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, 197101 Санкт-Петербург, Россия
c Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 195221 Санкт-Петербург, Россия
d НТЦ тонкопленочных технологий в энергетике, 194064 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Представлен простой метод получения гибридных наноструктур SiO$_2$ : Ag : Si и Ag : Si. Высокотемпературная обработка островковой пленки Ag на поверхности монокристаллического Si позволяет сохранить плазмонные свойства наночастиц Ag и защитить их от внешнего воздействия за счет покрытия термически выращенным слоем SiO$_2$. Расчет распределения напряженности электрического поля в структуре с внедренными наночастицами Ag в $c$-Si демонстрирует наличие собственных “горячих точек” на углах наночастиц, что приводит к высокому коэффициенту усиления ($\sim$10$^6$) комбинационного рассеяния света. Численный расчет зависимости спектрального положения локализованного плазмонного резонанса от геометрии структур может служить основой для их проектирования в будущем. Спектроскопия гигантского комбинационного рассеяния света показала надежное обнаружение метилового оранжевого, концентрация которого в водном растворе $<$ 10$^{-5}$ М.
Ключевые слова:
ГКР, наночастицы Ag, $c$-Si, метиловый оранжевый, локализованный плазмонный резонанс.
Поступила в редакцию: 05.05.2023 Исправленный вариант: 19.06.2023 Принята в печать: 20.06.2023
Образец цитирования:
А. А. Ермина, Н. С. Солодовченко, К. В. Пригода, В. С. Левицкий, С. И. Павлов, Ю. А. Жарова, “ГКР-активные подложки на основе внедренных наночастиц Ag в объем $c$-Si: моделирование, технология, применение”, Физика и техника полупроводников, 57:4 (2023), 243–250
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts6864 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v57/i4/p243
|
| Статистика просмотров: |
| Страница аннотации: | 58 | | PDF полного текста: | 42 |
|