Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2023, том 57, выпуск 4, страницы 243–250
DOI: https://doi.org/10.21883/FTP.2023.04.55893.07k
(Mi phts6864)
 

XXVII Международный симпозиум " Нанофизика и наноэлектроника" , Н. Новгород, 13 - 16 марта 2023г.

ГКР-активные подложки на основе внедренных наночастиц Ag в объем $c$-Si: моделирование, технология, применение

А. А. Ерминаa, Н. С. Солодовченкоb, К. В. Пригодаac, В. С. Левицкийd, С. И. Павловa, Ю. А. Жароваa

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
b Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, 197101 Санкт-Петербург, Россия
c Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого, 195221 Санкт-Петербург, Россия
d НТЦ тонкопленочных технологий в энергетике, 194064 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация: Представлен простой метод получения гибридных наноструктур SiO$_2$ : Ag : Si и Ag : Si. Высокотемпературная обработка островковой пленки Ag на поверхности монокристаллического Si позволяет сохранить плазмонные свойства наночастиц Ag и защитить их от внешнего воздействия за счет покрытия термически выращенным слоем SiO$_2$. Расчет распределения напряженности электрического поля в структуре с внедренными наночастицами Ag в $c$-Si демонстрирует наличие собственных “горячих точек” на углах наночастиц, что приводит к высокому коэффициенту усиления ($\sim$10$^6$) комбинационного рассеяния света. Численный расчет зависимости спектрального положения локализованного плазмонного резонанса от геометрии структур может служить основой для их проектирования в будущем. Спектроскопия гигантского комбинационного рассеяния света показала надежное обнаружение метилового оранжевого, концентрация которого в водном растворе $<$ 10$^{-5}$ М.
Ключевые слова: ГКР, наночастицы Ag, $c$-Si, метиловый оранжевый, локализованный плазмонный резонанс.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство науки и высшего образования Российской Федерации 0040-2019-0012
Работа выполнена при поддержке Министерства науки и высшего образования Российской Федерации в рамках государственного задания (Проект № 0040-2019-0012).
Поступила в редакцию: 05.05.2023
Исправленный вариант: 19.06.2023
Принята в печать: 20.06.2023
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. А. Ермина, Н. С. Солодовченко, К. В. Пригода, В. С. Левицкий, С. И. Павлов, Ю. А. Жарова, “ГКР-активные подложки на основе внедренных наночастиц Ag в объем $c$-Si: моделирование, технология, применение”, Физика и техника полупроводников, 57:4 (2023), 243–250
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ErmSolPri23}
\by А.~А.~Ермина, Н.~С.~Солодовченко, К.~В.~Пригода, В.~С.~Левицкий, С.~И.~Павлов, Ю.~А.~Жарова
\paper ГКР-активные подложки на основе внедренных наночастиц Ag в объем $c$-Si: моделирование, технология, применение
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2023
\vol 57
\issue 4
\pages 243--250
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts6864}
\crossref{https://doi.org/10.21883/FTP.2023.04.55893.07k}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=54202379}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts6864
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v57/i4/p243
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:58
    PDF полного текста:42
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2026