|
|
Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 5, страницы 638–643
(Mi phts7288)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления
Особенности одноосной упругой деформации кристаллов $p$-Si, облученных рентгеновскими лучами
Б. В. Павлык, Р. М. Лыс, Р. И. Дидык, И. А. Шикоряк Львовский национальный университет им. И. Франко
Аннотация:
Исследовались изменения электропроводности облученных при комнатной температуре монокристаллических образцов $p$-Si в процессе их сжатия и снятия механической нагрузки. Установлено, что облучение сопровождается генерацией точечных дефектов в кремнии, которые играют роль стопоров для движения дислокаций. Обнаружен эффект “радиационной памяти” в кристаллах “электронного” кремния.
Поступила в редакцию: 13.05.2014 Принята в печать: 20.10.2014
Образец цитирования:
Б. В. Павлык, Р. М. Лыс, Р. И. Дидык, И. А. Шикоряк, “Особенности одноосной упругой деформации кристаллов $p$-Si, облученных рентгеновскими лучами”, Физика и техника полупроводников, 49:5 (2015), 638–643; Semiconductors, 49:5 (2015), 625–629
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7288 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v49/i5/p638
|
|