|
|
Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 5, страницы 648–651
(Mi phts7290)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления
Геометризация динамической структуры переходного фотоотклика халькогенидов цинка
В. П. Мигаль, А. В. Бут, А. С. Фомин, И. А. Клименко Национальный аэрокосмический университет им. Н. Е. Жуковского "Харьковский авиационный институт", 61070 Харьков, Украина
Аннотация:
Представлен геометрический подход к выявлению характеристических признаков фотоотклика полупроводниковых сенсорных материалов. На примере кристаллов халькогенидов цинка показано, что при преобразовании их переходного фотоотклика в сигнатуры 1-го и 2-го порядков осуществляется естественная декомпозиция переходного фотоотклика на геометрически упорядоченные составляющие. Для системного анализа упорядоченности динамической структуры фотоотклика применены универсальные дифференциально-геометрические параметры и показатели, которые применимы и для других характеристик полупроводниковых сенсорных материалов.
Поступила в редакцию: 25.09.2014 Принята в печать: 21.10.2014
Образец цитирования:
В. П. Мигаль, А. В. Бут, А. С. Фомин, И. А. Клименко, “Геометризация динамической структуры переходного фотоотклика халькогенидов цинка”, Физика и техника полупроводников, 49:5 (2015), 648–651; Semiconductors, 49:5 (2015), 634–637
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7290 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v49/i5/p648
|
|