|
|
Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 6, страницы 728–731
(Mi phts7303)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Конференция "Кремний-2014" , Иркутск, 7-12 июля
Электронные свойства полупроводников
Формирование межузельного углерода в облученном легированном медью кремнии
Н. А. Ярыкинa, J. Weberb a Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 142432 Черноголовка, Россия
b Technische Universität Dresden, 01062 Dresden, Germany
Аннотация:
Влияние примеси меди на спектр дефектов, созданных облучением электронами с энергией 5 МэВ при комнатной температуре, изучается с помощью нестационарной спектроскопии глубоких уровней в кристаллах кремния $p$-типа проводимости с низкой концентрацией кислорода. Обнаружено, что межузельные атомы углерода (C$_i$), которые являются доминирующими дефектами в облученных образцах без меди, не выявляются сразу после облучения, если концентрация подвижной межузельной меди (Cu$_i$) превышает концентрацию введенных радиационных дефектов. Это явление связывается c формированием комплекса $\{$Cu$_i$, C$_i\}$, который не имеет уровней в нижней половине запрещенной зоны. Показано, что этот комплекс диссоциирует в процессе отжига при температурах 300–340 K, приводя к появлению межузельного углерода.
Поступила в редакцию: 20.11.2014 Принята в печать: 24.11.2014
Образец цитирования:
Н. А. Ярыкин, J. Weber, “Формирование межузельного углерода в облученном легированном медью кремнии”, Физика и техника полупроводников, 49:6 (2015), 728–731; Semiconductors, 49:6 (2015), 712–715
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7303 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v49/i6/p728
|
|