Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 6, страницы 728–731 (Mi phts7303)  

Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)

Конференция "Кремний-2014" , Иркутск, 7-12 июля
Электронные свойства полупроводников

Формирование межузельного углерода в облученном легированном медью кремнии

Н. А. Ярыкинa, J. Weberb

a Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 142432 Черноголовка, Россия
b Technische Universität Dresden, 01062 Dresden, Germany
Аннотация: Влияние примеси меди на спектр дефектов, созданных облучением электронами с энергией 5 МэВ при комнатной температуре, изучается с помощью нестационарной спектроскопии глубоких уровней в кристаллах кремния $p$-типа проводимости с низкой концентрацией кислорода. Обнаружено, что межузельные атомы углерода (C$_i$), которые являются доминирующими дефектами в облученных образцах без меди, не выявляются сразу после облучения, если концентрация подвижной межузельной меди (Cu$_i$) превышает концентрацию введенных радиационных дефектов. Это явление связывается c формированием комплекса $\{$Cu$_i$, C$_i\}$, который не имеет уровней в нижней половине запрещенной зоны. Показано, что этот комплекс диссоциирует в процессе отжига при температурах 300–340 K, приводя к появлению межузельного углерода.
Поступила в редакцию: 20.11.2014
Принята в печать: 24.11.2014
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2015, Volume 49, Issue 6, Pages 712–715
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782615060263
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Н. А. Ярыкин, J. Weber, “Формирование межузельного углерода в облученном легированном медью кремнии”, Физика и техника полупроводников, 49:6 (2015), 728–731; Semiconductors, 49:6 (2015), 712–715
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{YarWeb15}
\by Н.~А.~Ярыкин, J.~Weber
\paper Формирование межузельного углерода в облученном легированном медью кремнии
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2015
\vol 49
\issue 6
\pages 728--731
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts7303}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=24195186}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2015
\vol 49
\issue 6
\pages 712--715
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782615060263}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts7303
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v49/i6/p728
  • Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025