|
|
Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 6, страницы 741–745
(Mi phts7306)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Конференция "Кремний-2014" , Иркутск, 7-12 июля
Поверхность, границы раздела, тонкие пленки
Рекомбинационная активность границ раздела в мультикристаллическом кремнии
С. М. Пещероваa, Е. Б. Якимовb, А. И. Непомнящихa, Л. А. Павловаa, О. В. Феклисоваb a Институт геохимии им. Виноградова СО РАН, 664033 Иркутск, Россия
b Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 142432 Черноголовка, Россия
Аннотация:
Методом наведенного тока, индуцированного электронным пучком, исследована электрическая активность границ зерен в мультикристаллическом кремнии, выращенном из металлургического кремния методом Бриджмена. Выявлены основные тенденции нетипичного проявления локальной электрической активности специальными границами $\Sigma3\{111\}$ и $\Sigma9\{110\}$. Методами дифракции обратно рассеянных электронов и электронно-зондового микроанализа определены структурные особенности границ зерен после селективного травления и характер распределения примесей в мультикристаллическом кремнии.
Поступила в редакцию: 27.10.2014 Принята в печать: 05.11.2014
Образец цитирования:
С. М. Пещерова, Е. Б. Якимов, А. И. Непомнящих, Л. А. Павлова, О. В. Феклисова, “Рекомбинационная активность границ раздела в мультикристаллическом кремнии”, Физика и техника полупроводников, 49:6 (2015), 741–745; Semiconductors, 49:6 (2015), 724–728
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7306 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v49/i6/p741
|
|