Диагностика эффективности возбуждения поверхностных плазмон-поляритонов квантовыми точками с помощью поляризационных измерений выходного излучения

Разработан метод диагностики эффективности возбуждения поверхностных плазмон-поляритонов на границе металл–полупроводник активными квантовыми точками с помощью поляризационных измерений выходящего излучения. Он заключается в экспериментальном нахождении отношения интенсивности этого излучения с ортогональной к плоскости наногетероструктуры поляризацией к аналогичной величине с лежащей в этой плоскости поляризацией при двух различных расстояниях от слоя квантовых точек до границы металл–полупроводник. По результатам этих измерений определяются все неизвестные параметры в построенной в данной работе математической модели, позволяющей вычислить скорость возбуждения активными квантовыми точками поверхностных плазмон-поляритонов. В результате эта скорость может быть найдена без использования дорогостоящего и громоздкого оборудования для измерения малых времен.