|
|
Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 6, страницы 834–838
(Mi phts7322)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Углеродные системы
Применение вейвлет-преобразования к задаче обнаружения и определения положений лоренцианов $2D$ полосы рамановского спектра двухслойного графена
Т. Е. Тимофеева, С. А. Смагулова, В. И. Попов Северо-Восточный федеральный университет им. М. К. Аммосова, 677000 Якутск, Россия
Аннотация:
Показана возможность количественного определения числа слоев графена путем применения интегрального вейвлет-преобразования. Интегральное вейвлет-преобразование применено для обработки $2D$ полосы рамановских спектров однослойного графена и двухслойного графена, полученных микромеханическим отщеплением от графита и перенесенных на подложку SiO$_2$/Si. В результате применения вейвлет преобразования обнаружены скрытые лоренцевы пики в составе $2D$ полосы, определены их количество и положения. Координаты максимумов лоренцианов, полученные в результате вейвлет-преобразования, совпадают с данными литературы. Число обнаруженных лоренцианов подтверждает теорию возникновения этих пиков за счет процесса двойного резонанса и расщепления зонной структуры двухслойного графена.
Поступила в редакцию: 13.05.2014 Принята в печать: 16.12.2014
Образец цитирования:
Т. Е. Тимофеева, С. А. Смагулова, В. И. Попов, “Применение вейвлет-преобразования к задаче обнаружения и определения положений лоренцианов $2D$ полосы рамановского спектра двухслойного графена”, Физика и техника полупроводников, 49:6 (2015), 834–838; Semiconductors, 49:6 (2015), 814–818
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7322 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v49/i6/p834
|
|