|
|
Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 7, страницы 913–915
(Mi phts7332)
|
|
|
|
Электронные свойства полупроводников
Поведение примеси железа в кристаллах Hg$_3$In$_2$Te$_6$
О. Г. Грушка, А. И. Савчук, С. Н. Чупыра, С. В. Биличук Черновицкий национальный университет им. Ю. Федьковича, 58000 Черновцы, Украина
Аннотация:
На основе результатов оптических и фотоэлектрических измерений установлено, что легирование железом приводит к образованию в кристаллах Hg$_3$In$_2$Te$_6$ глубокого уровня $E_c$ – 0.69 эВ. При поглощении света примесными центрами Fe$^{2+}$ наблюдаются как электронные переходы примесной уровень-зона проводимости, так и оптические переходы между основным и возбужденным состояниями названного центра (внутрицентровые переходы). Исследования явлений переноса показали, что примесные центры Fe$^{2+}$ проявляют акцепторные свойства.
Поступила в редакцию: 02.12.2014 Принята в печать: 15.12.2014
Образец цитирования:
О. Г. Грушка, А. И. Савчук, С. Н. Чупыра, С. В. Биличук, “Поведение примеси железа в кристаллах Hg$_3$In$_2$Te$_6$”, Физика и техника полупроводников, 49:7 (2015), 913–915; Semiconductors, 49:7 (2015), 892–894
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7332 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v49/i7/p913
|
|