Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 11, страницы 1492–1496 (Mi phts7435)  
XIX симпозиум "Нанофизика и Наноэлектроника" , Нижний Новгород, 10-14 марта 2015 г.

Применение техники годографа к диагностике диодных структур

В. Б. Шмагинab, К. Е. Кудрявцевab, А. В. Новиковab, Д. В. Шенгуровab, Д. В. Юрасовab, З. Ф. Красильникab

a Институт физики микроструктур РАН, 603950 Нижний Новгород, Россия
b Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, Россия
PDF полного текста (228 kB)
Аннотация: Приведены примеры использования техники годографа при диагностике кремниевых диодных структур. Использование техники годографа позволяет минимизировать погрешности определения емкости $p$–$n$-перехода, обусловленные наличием маскирующих элементов, искажающих результаты прямого измерения емкости диодной структуры в параллельной и последовательной схемах замещения.
Поступила в редакцию: 22.04.2015
Принята в печать: 12.05.2015
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2015, Volume 49, Issue 11, Pages 1443–1447
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782615110196
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. Б. Шмагин, К. Е. Кудрявцев, А. В. Новиков, Д. В. Шенгуров, Д. В. Юрасов, З. Ф. Красильник, “Применение техники годографа к диагностике диодных структур”, Физика и техника полупроводников, 49:11 (2015), 1492–1496; Semiconductors, 49:11 (2015), 1443–1447
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ShmKudNov15}
\by В.~Б.~Шмагин, К.~Е.~Кудрявцев, А.~В.~Новиков, Д.~В.~Шенгуров, Д.~В.~Юрасов, З.~Ф.~Красильник
\paper Применение техники годографа к диагностике диодных структур
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2015
\vol 49
\issue 11
\pages 1492--1496
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts7435}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=24195327}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2015
\vol 49
\issue 11
\pages 1443--1447
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782615110196}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts7435
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v49/i11/p1492
    • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025