Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Физика и техника полупроводников, 2015, том 49, выпуск 12, страницы 1585–1592 (Mi phts7450)  
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

XIX симпозиум "Нанофизика и Наноэлектроника" , Нижний Новгород, 10-14 марта 2015 г.

Высокочастотное детектирование процессов формирования и стабилизации кластера радиационных дефектов в полупроводниковых структурах

А. С. Пузановa, С. В. Оболенскийa, В. А. Козловab, Е. В. Волковаa, Д. Г. Павельевa

a Нижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского, 603950 Нижний Новгород, Россия
b Институт физики микроструктур РАН, 603950 Нижний Новгород, Россия
PDF полного текста (237 kB) Список цитирования (4)
Аннотация: Проведен анализ процессов формирования и стабилизации кластера радиационных дефектов при попадании быстрого нейтрона в область пространственного заряда полупроводникового диода. Рассчитан импульс тока, формируемый вторичными электронами, и определен спектр сигнала, генерируемого диодом (детектором) при воздействии потока мгновенных нейтронов спектра деления. Обсуждается возможность экспериментального детектирования радиационно-индуцированных переходных процессов пикосекундной длительности.
Поступила в редакцию: 22.04.2015
Принята в печать: 15.05.2015
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2015, Volume 49, Issue 12, Pages 1537–1544
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782615120155
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. С. Пузанов, С. В. Оболенский, В. А. Козлов, Е. В. Волкова, Д. Г. Павельев, “Высокочастотное детектирование процессов формирования и стабилизации кластера радиационных дефектов в полупроводниковых структурах”, Физика и техника полупроводников, 49:12 (2015), 1585–1592; Semiconductors, 49:12 (2015), 1537–1544
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{PuzOboKoz15}
\by А.~С.~Пузанов, С.~В.~Оболенский, В.~А.~Козлов, Е.~В.~Волкова, Д.~Г.~Павельев
\paper Высокочастотное детектирование процессов формирования и стабилизации кластера радиационных дефектов в полупроводниковых структурах
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2015
\vol 49
\issue 12
\pages 1585--1592
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts7450}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=24195342}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2015
\vol 49
\issue 12
\pages 1537--1544
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782615120155}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts7450
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v49/i12/p1585
    • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025