|
|
Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 1, страницы 3–10
(Mi phts7475)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Электронные свойства полупроводников
Пироэлектрические свойства широкозонного полупроводника CdSe в области низких температур
Ю. В. Шалдинa, С. Матыясикb, А. А. Давыдовc, Н. В. Жаворонковc a Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН, г. Москва
b Международная лаборатория сильных магнитных полей и низких температур, 53-421Wroclaw, Poland
c Научно-исследовательский институт материалов,
124460 Москва, Россия
Аннотация:
В области температур $T$ = 4.2–300 K выполнены измерения спонтанной поляризации нестехиометрических образцов CdSe, выращенных методом сублимации при 1423 K и подвергнутых отжигу в парах селена. По этим даным рассчитаны температурные зависимости пироэлектрического коэффициента в CdSe. Обнаружены аномалии в областях $T<$ 10 K и $T>$ 210 K. Изменение зарядового состояния дефектной подсистемы образцов, вызванное слабым электрическим полем, привело к усилению аномалий и появлению новой аномалии при $T$ = 236 K. Как правило, аномалии при $T<$ 10 K и $T$ = 236 K зависят от полярности внешнего воздействия. Шунтирующее действие собственной проводимости образца проявляется только в области выше 270 K. Исследования образца неполярного среза приводят к несколько неожиданным результатам: аномалии сохраняются, но их величины значительно уменьшаются. В рамках кристаллофизического подхода предприняты попытки объяснить аномалии, наблюдаемые ниже 270 K, как за счет ассоциатов, обладающих дипольным моментом, так и трансформацией последних с возможным участием неконтролируемой примеси кислорода в макрообразования типа кластера, ориентация суммарного дипольного момента которого не совпадает с полярным направлением идеального кристалла.
Поступила в редакцию: 10.01.2012 Принята в печать: 21.01.2013
Образец цитирования:
Ю. В. Шалдин, С. Матыясик, А. А. Давыдов, Н. В. Жаворонков, “Пироэлектрические свойства широкозонного полупроводника CdSe в области низких температур”, Физика и техника полупроводников, 48:1 (2014), 3–10; Semiconductors, 48:1 (2014), 1–8
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7475 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v48/i1/p3
|
|