|
|
Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 2, страницы 207–211
(Mi phts7511)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Спектроскопия, взаимодействие с излучениями
Фотолюминесценция твeрдых растворов CdHgTe, подвергнутых обработке низкоэнергетическими ионами
И. И. Ижнинa, А. И. Ижнинa, К. Д. Мынбаевbc, Н. Л. Баженовb, Е. И. Фицычa, М. В. Якушевd, Н. Н. Михайловd, В. С. Варавинd, С. А. Дворецкийd a Научно-производственное предприятие "Карат", 79031 Львов, Украина
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
c Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина), 197376 Санкт-Петербург, Россия
d Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, 623090 Новосибирск, Россия
Аннотация:
Исследована фотолюминесценция твeрдых растворов CdHgTe, прошедших обработку низкоэнергетическими ионами. Наблюдался коротковолновый сдвиг максимума спектров фотолюминесценции непосредственно после ионной обработки, объясняемый формированием большой концентрации донорных дефектов и эффектом Бурштейна–Мосса. Изменение формы спектров и, в частности, исчезновение линий, связанных с переходами на акцепторные состояния, свидетельствует о том, что данные дефекты формируются при взаимодействии атомов межузельной ртути, вводимых в образец при обработке, с атомами примесей. При прекращении обработки, по мере распада дефектов концентрация электронов снижается, и сдвиг максимума спектра исчезает, но форма линий остаeтся постоянной. Такое поведение спектров люминесценции может быть использовано для диагностики дефектно-примесной структуры CdHgTe.
Поступила в редакцию: 22.04.2013 Принята в печать: 23.05.2013
Образец цитирования:
И. И. Ижнин, А. И. Ижнин, К. Д. Мынбаев, Н. Л. Баженов, Е. И. Фицыч, М. В. Якушев, Н. Н. Михайлов, В. С. Варавин, С. А. Дворецкий, “Фотолюминесценция твeрдых растворов CdHgTe, подвергнутых обработке низкоэнергетическими ионами”, Физика и техника полупроводников, 48:2 (2014), 207–211; Semiconductors, 48:2 (2014), 195–198
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7511 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v48/i2/p207
|
|