Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 3, страницы 327–333 (Mi phts7534)  

Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Эффект поля в тонких пленках полупроводников с кейновским законом дисперсии носителей заряда

И. С. Дубицкий, А. М. Яфясов

Санкт-Петербургский государственный университет (физический факультет, кафедра электроники твердого тела), 199034 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация: Предложена методика расчета параметров области пространственного заряда тонких пленок полупроводников с кейновским законом дисперсии носителей заряда при комнатных температурах. Реализована процедура самосогласованного решения уравнений Пуассона, Клейна–Гордона–Фока и Шредингера для соединения кадмий–ртуть–теллур. Получены точные подзонные законы дисперсии. Обнаружены явления линеаризации хода потенциала в тонких пленках и установлены границы применимости приближения треугольной ямы. Проведено сравнение хода потенциала в пленке, плотности заряда и вольт-фарадных характеристик, вычисленных в рамках приближения эффективной массы и феноменологической теории. Установлены границы применимости феноменологического описания области пространственного заряда. Выявлено влияние подсистемы тяжелых дырок на основные характеристики области пространственного заряда.
Поступила в редакцию: 20.05.2013
Принята в печать: 20.06.2013
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2014, Volume 48, Issue 3, Pages 312–319
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782614030117
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: И. С. Дубицкий, А. М. Яфясов, “Эффект поля в тонких пленках полупроводников с кейновским законом дисперсии носителей заряда”, Физика и техника полупроводников, 48:3 (2014), 327–333; Semiconductors, 48:3 (2014), 312–319
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{DubYaf14}
\by И.~С.~Дубицкий, А.~М.~Яфясов
\paper Эффект поля в тонких пленках полупроводников с кейновским законом дисперсии носителей заряда
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2014
\vol 48
\issue 3
\pages 327--333
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts7534}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=21310744}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2014
\vol 48
\issue 3
\pages 312--319
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782614030117}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts7534
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v48/i3/p327
  • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025