|
|
Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 5, страницы 648–653
(Mi phts7590)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 11 научных статьях (всего в 11 статьях)
Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления
Размерный эффект в гальваномагнитных явлениях в пленках висмута, легированного теллуром
В. М. Грабовa, Е. В. Демидовa, В. А. Комаровa, Д. Ю. Матвеевa, А. А. Николаеваb, Д. С. Маркушевa, Е. В. Константиновa, Е. Е. Константиноваa a Российский государственный педагогический университет им. А. И. Герцена, 191186 Санкт-Петербург, Россия
b Институт электронной инженерии и нанотехнологий имени Д.В. Гицу Академии наук Молдовы, MD 2028 Кишинев, Республика Молдова
Аннотация:
Приведены результаты экспериментального исследования гальваномагнитных явлений в монокристаллических и блочных пленках висмута, легированного теллуром, в интервале температур 77–300 K, в диапазоне толщин пленок 0.1–1 мкм. Показано, что в исследованных пленках концентрация носителей заряда не зависит от толщины, рассеяние носителей заряда осуществляется на фононах, поверхности пленок, дефектах структуры и границах кристаллитов. Величины и соотношение перечисленных вкладов в ограничение подвижности носителей заряда зависит от содержания теллура, толщины пленки, а также их монокристаллического или блочного состояния.
Поступила в редакцию: 05.09.2013 Принята в печать: 12.09.2013
Образец цитирования:
В. М. Грабов, Е. В. Демидов, В. А. Комаров, Д. Ю. Матвеев, А. А. Николаева, Д. С. Маркушев, Е. В. Константинов, Е. Е. Константинова, “Размерный эффект в гальваномагнитных явлениях в пленках висмута, легированного теллуром”, Физика и техника полупроводников, 48:5 (2014), 648–653; Semiconductors, 48:5 (2014), 630–635
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7590 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v48/i5/p648
|
|