Особенности локальной структуры халькогенидного стеклообразного полупроводника Se$_{95}$Te$_5$, легированного самарием

Исследованы спектры КРС термически напыленных пленок аморфного селена, чистого ХСП состава Se$_{95}$Te$_5$, а также Se$_{95}$Te$_5$, легированного самарием. Показано, что спектры КРС аморфного селена состоят из двух полос с максимумами 40.5 и 254 см$^{-1}$, а остальные образцы из трех полос с максимумами 37.1–40.3, 208.8–211.9 и 248.4–253.3 см$^{-1}$ в зависимости от уровня легирования. Наблюдаемые особенности объяснены изменением относительных долей различных структурных единиц, а также возможным изменением локальной структуры на уровне среднего и ближнего порядков.