Электронографические исследования образования фаз Tl–Fe–Se и кинетики фазовых превращений пленок TlFeSe$_2$

Методом электронографического структурного анализа и кинематической электронографией исследованы условия образования фаз в системе Tl–Fe–Se и кинетика кристаллизации аморфных пленок TlFeSe$_2$. Показано, что кристаллизация аморфных пленок TlFeSe$_2$ описывается аналитическим выражением кинетических кривых фазовых превращений $V_t=V_0[1-\exp(kt^m)]$. Определены мерность роста при кристаллизации аморфных пленок TlFeSe$_2$, равная 3, и значения энергии активации зародышеобразования и роста кристалликов.