|
|
Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 12, страницы 1607–1610
(Mi phts7765)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)
Поверхность, границы раздела, тонкие пленки
Наноструктурированные халькогенидные пленки Ge$_2$Sb$_2$Te$_5$, полученные методом лазерного электродиспергирования
Д. А. Явсин, В. М. Кожевин, С. А. Гуревич, С. А. Яковлев, Б. Т. Мелех, М. А. Яговкина, А. Б. Певцов Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Методом лазерного электродиспергирования получены аморфные наноструктурированные пленки сложного халькогенида (Ge$_2$Sb$_2$Te$_5$) и исследованы их структурные и электрические свойства. Установлено, что характерный размер аморфных наночастиц Ge$_2$Sb$_2$Te$_5$ в структуре пленок составляет 1.5–5 нм.
Поступила в редакцию: 13.05.2014 Принята в печать: 20.05.2014
Образец цитирования:
Д. А. Явсин, В. М. Кожевин, С. А. Гуревич, С. А. Яковлев, Б. Т. Мелех, М. А. Яговкина, А. Б. Певцов, “Наноструктурированные халькогенидные пленки Ge$_2$Sb$_2$Te$_5$, полученные методом лазерного электродиспергирования”, Физика и техника полупроводников, 48:12 (2014), 1607–1610; Semiconductors, 48:12 (2014), 1567–1570
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7765 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v48/i12/p1607
|
|