Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2014, том 48, выпуск 12, страницы 1611–1620 (Mi phts7766)  

Эта публикация цитируется в 11 научных статьях (всего в 11 статьях)

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Легирование и дефектообразование в термоэлектрике ZnSb с примесью меди

Л. В. Прокофьева, П. П. Константинов, А. А. Шабалдин, Д. А. Пшенай-Северин, А. Т. Бурков, М. И. Федоров

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация: В образцах ZnSb:Cu и ZnSb:CuSb с концентрацией меди до 0.6 ат% измерены коэффициенты Холла, термоэдс и электропроводности в режиме термоциклов 300–720–300 K. Показано, что поведение свойств определяется существованием двух температурных областей с разным характером изменения холловской концентрации и механизма рассеяния носителей заряда. Поведение заметно осложняется, когда при охлаждении появляется температурный гистерезис, привносящий в изменение свойств дополнительные особенности. Две отмеченные области легирования (с диапазоном 300–500 K и максимальной концентрацией дырок 2.5 $\cdot$ 10$^{19}$ см$^{-3}$ и с температурами выше 500 K и максимальной концентрацией 7.2 $\cdot$ 10$^{19}$ см) характеризуются рассеянием с участием как акустических фононов, так и заряженных примесей, при этом относительный вклад последних существенно зависит от состава легирующей добавки, температуры и хода ее изменения; охлаждение образцов до 77 K вызывает сильное снижение холловской подвижности, исчезающее только при $\sim$ 650 K. Взаимосвязанные процессы легирования и образования с последующей трансформацией дефектов, занимающих нейтральные позиции в решетке, связываются с изменением в микроструктуре образцов.
Поступила в редакцию: 27.05.2014
Принята в печать: 09.06.2014
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2014, Volume 48, Issue 12, Pages 1571–1580
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782614120161
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Л. В. Прокофьева, П. П. Константинов, А. А. Шабалдин, Д. А. Пшенай-Северин, А. Т. Бурков, М. И. Федоров, “Легирование и дефектообразование в термоэлектрике ZnSb с примесью меди”, Физика и техника полупроводников, 48:12 (2014), 1611–1620; Semiconductors, 48:12 (2014), 1571–1580
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ProKonSha14}
\by Л.~В.~Прокофьева, П.~П.~Константинов, А.~А.~Шабалдин, Д.~А.~Пшенай-Северин, А.~Т.~Бурков, М.~И.~Федоров
\paper Легирование и дефектообразование в термоэлектрике ZnSb с примесью меди
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2014
\vol 48
\issue 12
\pages 1611--1620
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts7766}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=22019013}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2014
\vol 48
\issue 12
\pages 1571--1580
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782614120161}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts7766
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v48/i12/p1611
  • Эта публикация цитируется в следующих 11 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025