|
|
Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 1, страницы 65–67
(Mi phts7804)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления
Оптическая резонансная идентификация дальнего туннелирования электронов между уровнями сверхрешетки в электрическом поле
А. А. Андронов, Е. П. Додин, Д. И. Зинченко, Ю. Н. Ноздрин Институт физики микроструктур РАН, г. Нижний Новгород
Аннотация:
Предложен способ диагностики взаимодействия электронных состояний в многослойных гетероструктурах в постоянном электрическом поле. В основе методики лежит измерение резонансного отклика амплитуды гармоники тока в гетероструктуре на воздействие модулированного лазерного излучения. В настоящей работе метод продемонстрирован при исследовании туннелирования между уровнями Ванье–Штарка в сверхрешетке с сильно связанными квантовыми ямами.
Поступила в редакцию: 16.05.2012 Принята в печать: 31.05.2012
Образец цитирования:
А. А. Андронов, Е. П. Додин, Д. И. Зинченко, Ю. Н. Ноздрин, “Оптическая резонансная идентификация дальнего туннелирования электронов между уровнями сверхрешетки в электрическом поле”, Физика и техника полупроводников, 47:1 (2013), 65–67; Semiconductors, 47:1 (2013), 63–65
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7804 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i1/p65
|
|