Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 1, страницы 107–111 (Mi phts7811)  
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Углеродные системы

Оптическая спектроскопия композитных тонких пленок C$_{60}$ : CdS

И. Б. Захароваa, В. М. Зиминовb, А. В. Нащекинb, Ю. С. Вайнштейнb, А. Н. Алешинb

a Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, 195251 Санкт-Петербург, Россия
b Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
PDF полного текста (505 kB) Список цитирования (4) Английская версия
Аннотация: Описаны методика получения, структура и результаты оптической спектроскопии тонких композитных пленок на основе фуллерена с примесью (0.5–10)% сульфида кадмия. Разработана технология получения структур с градиентом состава в едином вакуумном цикле. Полученные образцы исследованы методами атомно-силовой микроскопии, комбинационного рассеяния, фотолюминесценции. При оптимальном содержании сульфида кадмия наблюдается перенос заряда на фуллерен, приводящий, по-видимому, к безбарьерной полимеризации пленок. Для спектральных зависимостей фотолюминесценции отмечен сдвиг пика в коротковолновую сторону на 0.09–0.11 эВ и увеличение интенсивности фотолюминесценции композитных пленок по сравнению с чистыми фуллереновыми образцами. Композитные структуры с градиентом содержания сульфида кадмия по толщине имеют выпрямляющие вольт-амперные характеристики.
Английская версия:
Semiconductors, 2013, Volume 47, Issue 1, Pages 105–109
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782613010235
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: И. Б. Захарова, В. М. Зиминов, А. В. Нащекин, Ю. С. Вайнштейн, А. Н. Алешин, “Оптическая спектроскопия композитных тонких пленок C$_{60}$ : CdS”, Физика и техника полупроводников, 47:1 (2013), 107–111; Semiconductors, 47:1 (2013), 105–109
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{ZakZimNas13}
\by И.~Б.~Захарова, В.~М.~Зиминов, А.~В.~Нащекин, Ю.~С.~Вайнштейн, А.~Н.~Алешин
\paper Оптическая спектроскопия композитных тонких пленок C$_{60}$ : CdS
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2013
\vol 47
\issue 1
\pages 107--111
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts7811}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20319349}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2013
\vol 47
\issue 1
\pages 105--109
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782613010235}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts7811
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i1/p107
    • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:36
    PDF полного текста:13
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2026