Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 3, страницы 373–382 (Mi phts7857)  

Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)

Физика полупроводниковых приборов

Теория и моделирование комбинированных механизмов ограничения области безопасной работы полупроводниковых переключателей силовой микроэлектроники

А. В. Горбатюкab, Д. В. Гусинab, Б. В. Ивановc

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский государственный политехнический университет, 194251 Санкт-Петербург, Россия
c Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В. И. Ульянова (Ленина)
Аннотация: Разработана обобщенная аналитическая модель процесса выключения биполярных переключателей с микрозатворами, учитывающая роль технологических и конструктивных несовершенств реальных структур в ограничении области их безопасной работы. На примере тиристорного микрочипа с внешним полевым управлением, работающего в схеме инвертора напряжения, проведено количественное определение границы области безопасной работы по выключаемому току. Установлено, что для неидеальной структуры эта граница в области низких напряжений определяется эффектом регенеративного отпирания катодного эмиттера, а со стороны высоких напряжений - возникновением локализации тока в “возмущенных” ячейках с участием динамического пробоя. Обсуждаются возможные применения разработанной модели для указания направлений оптимизации приборных структур с повышением их максимального коммутируемого тока. Адекватность результатов применения модели проверена с помощью имитационного компьютерного моделирования.
Поступила в редакцию: 24.04.2012
Принята в печать: 12.05.2012
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2013, Volume 47, Issue 3, Pages 396–405
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782613030093
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. В. Горбатюк, Д. В. Гусин, Б. В. Иванов, “Теория и моделирование комбинированных механизмов ограничения области безопасной работы полупроводниковых переключателей силовой микроэлектроники”, Физика и техника полупроводников, 47:3 (2013), 373–382; Semiconductors, 47:3 (2013), 396–405
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{GorGusIva13}
\by А.~В.~Горбатюк, Д.~В.~Гусин, Б.~В.~Иванов
\paper Теория и моделирование комбинированных механизмов ограничения области безопасной работы полупроводниковых переключателей силовой микроэлектроники
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2013
\vol 47
\issue 3
\pages 373--382
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts7857}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20319395}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2013
\vol 47
\issue 3
\pages 396--405
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782613030093}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts7857
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i3/p373
  • Эта публикация цитируется в следующих 5 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025