|
|
Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 4, страницы 442–446
(Mi phts7869)
|
|
|
|
Спектроскопия, взаимодействие с излучениями
Исследование фотомодулированного отражения монокристаллов 6H-SiC
А. Н. Грузинцев Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 142432 Черноголовка, Россия
Аннотация:
Исследовано влияние ультрафиолетового облучения поверхности монокристаллов карбида кремния (6H-SiC) на их оптическое отражение в видимой и фиолетовой областях спектра. Показано, что сигнал фотоотражения максимален при падении света под углом Брюстера с поляризацией, параллельной плоскости падения. Установлено относительное изменение показателя преломления (10$^{-3}$) поверхностных слоев кристалла при облучении азотным лазером, обусловленное генерацией неравновесных свободных носителей в зоне проводимости материала.
Поступила в редакцию: 09.06.2012 Принята в печать: 21.06.2012
Образец цитирования:
А. Н. Грузинцев, “Исследование фотомодулированного отражения монокристаллов 6H-SiC”, Физика и техника полупроводников, 47:4 (2013), 442–446; Semiconductors, 47:4 (2013), 464–468
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7869 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i4/p442
|
|