Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 6, страницы 859–863 (Mi phts7941)  

Эта публикация цитируется в 7 научных статьях (всего в 7 статьях)

Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур

Влияние ионной обработки на свойства пленок In$_2$O$_3$ : Sn

П. Н. Крыловa, Р. М. Закироваa, И. В. Федотоваa, Ф. З. Гильмутдиновb

a Удмуртский государственный университет, г. Ижевск
b Физико-технический институт Уральского отделения Российской академии наук, 426000 Ижевск, Россия
Аннотация: Представлено изменение свойств пленок ITO, полученных методом реактивного ВЧ магнетронного напыления с одновременной ионной обработкой в зависимости от тока ионной обработки и температуры подложки. Ионная обработка растущей пленки в процессе напыления незначительно меняет относительное количество олова и индия, но существенно увеличивает электропроводность. Пленки, полученные при температуре ниже 50$^\circ$C без ионной обработки, являются рентгеноаморфными. Ионная обработка и увеличение температуры конденсации приводят к кристаллизации пленок и сдвигу края оптического поглощения в сторону коротких длин волн. Увеличение тока ионной обработки вызывает появление текстуры.
Поступила в редакцию: 01.08.2012
Принята в печать: 28.08.2012
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2013, Volume 47, Issue 6, Pages 870–874
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782613060146
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: П. Н. Крылов, Р. М. Закирова, И. В. Федотова, Ф. З. Гильмутдинов, “Влияние ионной обработки на свойства пленок In$_2$O$_3$ : Sn”, Физика и техника полупроводников, 47:6 (2013), 859–863; Semiconductors, 47:6 (2013), 870–874
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KriZakFed13}
\by П.~Н.~Крылов, Р.~М.~Закирова, И.~В.~Федотова, Ф.~З.~Гильмутдинов
\paper Влияние ионной обработки на свойства пленок In$_2$O$_3$ : Sn
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2013
\vol 47
\issue 6
\pages 859--863
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts7941}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20319480}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2013
\vol 47
\issue 6
\pages 870--874
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782613060146}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts7941
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i6/p859
  • Эта публикация цитируется в следующих 7 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025