Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 8, страницы 1027–1032 (Mi phts7982)  

Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

Особенности напряженно-деформированного состояния гетероструктур Si/SiO$_2$/Ge с наноостровками германия предельной плотности

В. В. Курилюк, О. А. Коротченков

Киевский национальный университет имени Тараса Шевченко, физический факультет
Аннотация: В рамках модели упругого континуума с использованием метода конечных элементов выполнены расчеты напряженно-деформированного состояния кремний-германиевых гетероструктур с полусферическими островками германия, выращенными на окисленной поверхности кремния. Показано, что при увеличении плотности островков до предельных значений в SiGe-структуре с открытыми квантовыми точками существенно изменяются величина и пространственное распределение полей упругих деформаций. Результаты теоретических расчетов позволяют выявить участки гетероструктуры с максимальным изменением напряженно-деформированного состояния, местоположение которых можно варьировать изменением плотности островков.
Поступила в редакцию: 04.12.2012
Принята в печать: 04.12.2012
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2013, Volume 47, Issue 8, Pages 1031–1036
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782613080113
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. В. Курилюк, О. А. Коротченков, “Особенности напряженно-деформированного состояния гетероструктур Si/SiO$_2$/Ge с наноостровками германия предельной плотности”, Физика и техника полупроводников, 47:8 (2013), 1027–1032; Semiconductors, 47:8 (2013), 1031–1036
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KurKor13}
\by В.~В.~Курилюк, О.~А.~Коротченков
\paper Особенности напряженно-деформированного состояния гетероструктур Si/SiO$_2$/Ge с наноостровками германия предельной плотности
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2013
\vol 47
\issue 8
\pages 1027--1032
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts7982}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20319525}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2013
\vol 47
\issue 8
\pages 1031--1036
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782613080113}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts7982
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i8/p1027
  • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025