|
|
Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 8, страницы 1027–1032
(Mi phts7982)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления
Особенности напряженно-деформированного состояния гетероструктур Si/SiO$_2$/Ge с наноостровками германия предельной плотности
В. В. Курилюк, О. А. Коротченков Киевский национальный университет имени Тараса Шевченко, физический факультет
Аннотация:
В рамках модели упругого континуума с использованием метода конечных элементов выполнены расчеты напряженно-деформированного состояния кремний-германиевых гетероструктур с полусферическими островками германия, выращенными на окисленной поверхности кремния. Показано, что при увеличении плотности островков до предельных значений в SiGe-структуре с открытыми квантовыми точками существенно изменяются величина и пространственное распределение полей упругих деформаций. Результаты теоретических расчетов позволяют выявить участки гетероструктуры с максимальным изменением напряженно-деформированного состояния, местоположение которых можно варьировать изменением плотности островков.
Поступила в редакцию: 04.12.2012 Принята в печать: 04.12.2012
Образец цитирования:
В. В. Курилюк, О. А. Коротченков, “Особенности напряженно-деформированного состояния гетероструктур Si/SiO$_2$/Ge с наноостровками германия предельной плотности”, Физика и техника полупроводников, 47:8 (2013), 1027–1032; Semiconductors, 47:8 (2013), 1031–1036
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7982 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i8/p1027
|
|