|
|
Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 8, страницы 1122–1128
(Mi phts7997)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур
Изменения в волноводной электролюминесцентной структуре на основе ZnS : Cr, вызванные собственным лазерным ближнеинфракрасным излучением
Н. А. Власенко, П. Ф. Олексенко, М. А. Мухльо, Л. И. Велигура Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, г. Киев
Аннотация:
Исследуются причины изменений в тонкопленочной электролюминесцентной волноводной структуре типа металл–диэлектрик–полупроводник–диэлектрик–металл на основе ZnS : Cr с концентрацией Cr $\sim$4 $\cdot$ 10$^{20}$ cm$^{-3}$, которые возникают при лазерной генерации ($\lambda\approx$ 2.6 мкм) и вызывают ее исчезновение. Установлено, что лазерная генерация исчезает из-за появления в структуре светорассеивающих неоднородностей и, следовательно, оптических потерь. Природа неоднородностей и причины их возникновения выясняются путем исследования методами атомно-силовой микроскопии и рентгеновской дефектоскопии топологии поверхности и кристаллической структуры слоев образца до и после возникновения генерации. Показано, что сильное увеличение размеров зерен на поверхности структуры является проявлением изменений, происходящих в пленке ZnS : Cr в результате рекристаллизации, вызванной локальным разогревом из-за поглощения лазерного излучения имеющимися кластерами Cr и ускоренной сильным электрическим полем (более 1 МВ/см). Выявлены следующие изменения в пленке ZnS : Cr: текстурированный рост кристаллитов ZnS, увеличение доли кластеров Cr, появление небольшого количества CrS и большего – ZnO. Даются рекомендации относительно улучшения стабильности лазерной генерации в волноводных ZnS : Cr-структурах.
Поступила в редакцию: 15.10.2012 Принята в печать: 20.10.2012
Образец цитирования:
Н. А. Власенко, П. Ф. Олексенко, М. А. Мухльо, Л. И. Велигура, “Изменения в волноводной электролюминесцентной структуре на основе ZnS : Cr, вызванные собственным лазерным ближнеинфракрасным излучением”, Физика и техника полупроводников, 47:8 (2013), 1122–1128; Semiconductors, 47:8 (2013), 1116–1122
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts7997 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i8/p1122
|
|