|
|
Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 9, страницы 1153–1156
(Mi phts8002)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Электронные свойства полупроводников
Электрические и оптические свойства кристаллов Hg$_3$In$_2$Te$_6$, легированных марганцем
О. Г. Грушка, С. М. Чупыра, О. М. Мыслюк, С. В. Биличук, Д. П. Козярский Черновицкий национальный университет им. Ю. Федьковича
Аннотация:
На основе электрических и оптических измерений исследовано влияние примеси марганца на свойства кристаллов Hg$_3$In$_2$Te$_6$. Показано, что, несмотря на большую концентрацию введенной примеси (1 $\cdot$ 10$^{19}$ см$^{-3}$), порядок концентрации электронов остается таким же, как в нелегированном кристалле ($\sim$ 10$^{13}$ см$^{-3}$ при 300 K). При этом наблюдается сужение запрещенной зоны от 0.74 до 0.7 эВ. Из анализа спектров поглощения установлено, что край поглощения формируется оптическими переходами с участием хвостов плотности состояний, а в запрещенной зоне образуются две примесные зоны, донорного и акцепторного типов, с гауссовым распределением плотности состояний и энергетическим промежутком между максимумами $E_0=E_d^0-E_a^0$ = 0.4 эВ. Определены суммарная концентрация доноров и акцепторов $N_d+N_a$ и степень компенсации: $K=N_a/N_d\to1$. Последнее является причиной стабилизации уровня Ферми вблизи середины запрещенной зоны и квазисобственного характера проводимости при температурах $T\ge$ 300 K.
Поступила в редакцию: 01.11.2012 Принята в печать: 21.11.2012
Образец цитирования:
О. Г. Грушка, С. М. Чупыра, О. М. Мыслюк, С. В. Биличук, Д. П. Козярский, “Электрические и оптические свойства кристаллов Hg$_3$In$_2$Te$_6$, легированных марганцем”, Физика и техника полупроводников, 47:9 (2013), 1153–1156; Semiconductors, 47:9 (2013), 1141–1144
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts8002 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i9/p1153
|
|