|
|
Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 9, страницы 1181–1184
(Mi phts8007)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 8 научных статьях (всего в 8 статьях)
Поверхность, границы раздела, тонкие пленки
Локальная трибоэлектризация поверхности $n$-GaAs с помощью зонда атомно-силового микроскопа
П. Н. Брунков, В. В. Гончаров, М. Э. Рудинский, А. А. Гуткин, Н. Ю. Гордеев, В. М. Лантратов, Н. А. Калюжный, С. А. Минтаиров, Р. В. Соколов, С. Г. Конников Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
С помощью метода сканирующей кельвин-зондовой микроскопии показано, что при взаимодействии зонда атомно-силового микроскопа с поверхностью $n$-GaAs наблюдается эффект трибоэлектризации. Знак изменения потенциала указывает на то, что поверхность образца после трибоэлектризации становится заряженной более отрицательно. Обнаруженные закономерности этого эффекта качественно могут быть объяснены термически активированной генерацией точечных дефектов в приповерхностных слоях образца, деформированных из-за взаимодействия с зондом.
Поступила в редакцию: 24.01.2013 Принята в печать: 29.01.2013
Образец цитирования:
П. Н. Брунков, В. В. Гончаров, М. Э. Рудинский, А. А. Гуткин, Н. Ю. Гордеев, В. М. Лантратов, Н. А. Калюжный, С. А. Минтаиров, Р. В. Соколов, С. Г. Конников, “Локальная трибоэлектризация поверхности $n$-GaAs с помощью зонда атомно-силового микроскопа”, Физика и техника полупроводников, 47:9 (2013), 1181–1184; Semiconductors, 47:9 (2013), 1170–1173
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts8007 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i9/p1181
|
|