Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2013, том 47, выпуск 10, страницы 1376–1380 (Mi phts8043)  

Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Микро- и нанокристаллические, пористые, композитные полупроводники

Оптические постоянные тонких пленок наночастиц кремния, полученных методом лазерного электродиспергирования

О. С. Ельцина, Д. А. Андроников, М. Ю. Семерухин, Д. А. Явсин, Ю. С. Вайнштейн, О. М. Сресели, С. А. Гуревич

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация: Продолжены исследования пленок, состоящих из аморфных плотноупакованных наночастиц кремния, полученных методом лазерного электродиспергирования. Были измерены спектры оптического пропускания и отражения пленок, изготовленных в вакууме и при различных давлениях кислорода, введенного в камеру для пассивации поверхности наночастиц. Рассчитаны спектры показателя преломления и коэффициента экстинкции пленок. По виду спектры оптических постоянных коррелируют со спектрами объемного аморфного кремния, но полученные величины отличаются от параметров объемного аморфного кремния. Различия связаны со значительным объемом пустот между наночастицами и с большим количеством оборванных связей (дефектов) на поверхности наночастиц. С увеличением содержания кислорода в пленках значения оптических постоянных уменьшаются, что отражает процесс пассивации оборванных связей кислородом.
Поступила в редакцию: 01.04.2013
Принята в печать: 08.04.2013
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2013, Volume 47, Issue 10, Pages 1367–1371
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782613100102
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: О. С. Ельцина, Д. А. Андроников, М. Ю. Семерухин, Д. А. Явсин, Ю. С. Вайнштейн, О. М. Сресели, С. А. Гуревич, “Оптические постоянные тонких пленок наночастиц кремния, полученных методом лазерного электродиспергирования”, Физика и техника полупроводников, 47:10 (2013), 1376–1380; Semiconductors, 47:10 (2013), 1367–1371
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KenAndSem13}
\by О.~С.~Ельцина, Д.~А.~Андроников, М.~Ю.~Семерухин, Д.~А.~Явсин, Ю.~С.~Вайнштейн, О.~М.~Сресели, С.~А.~Гуревич
\paper Оптические постоянные тонких пленок наночастиц кремния, полученных методом лазерного электродиспергирования
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2013
\vol 47
\issue 10
\pages 1376--1380
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts8043}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20319586}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2013
\vol 47
\issue 10
\pages 1367--1371
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782613100102}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts8043
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v47/i10/p1376
  • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025