|
|
Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 2, страницы 258–261
(Mi phts8159)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Физика полупроводниковых приборов
Неравномерность пространственного распределения отрицательной люминесценции в фотодиодах на основе InAsSb(P) (длинноволновая граница $\lambda_{0.1}$ = 5.2 мкм)
С. А. Карандашевa, Б. А. Матвеевa, И. В. Мжельскийb, В. Г. Половинкинb, М. А. Ременныйa, А. Ю. Рыбальченкоa, Н. М. Стусьa a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН, г. Новосибирск
Аннотация:
Представлен анализ пространственной неравномерности интенсивности отрицательной люминесценции и сгущения линий прохождения тока в фотодиодах среднего инфракрасного диапазона на основе InAsSb(P) в зависимости от величины приложенного напряжения и размера контакта. Показано, что указанная неравномерность является одной из основных причин низкой чувствительности фотодиодов, имеющих невысокое значение динамического сопротивления в нуле смещения и работающих в режиме фототока.
Поступила в редакцию: 25.07.2011 Принята в печать: 01.08.2011
Образец цитирования:
С. А. Карандашев, Б. А. Матвеев, И. В. Мжельский, В. Г. Половинкин, М. А. Ременный, А. Ю. Рыбальченко, Н. М. Стусь, “Неравномерность пространственного распределения отрицательной люминесценции в фотодиодах на основе InAsSb(P) (длинноволновая граница $\lambda_{0.1}$ = 5.2 мкм)”, Физика и техника полупроводников, 46:2 (2012), 258–261; Semiconductors, 46:2 (2012), 247–250
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts8159 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i2/p258
|
|