Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 3, страницы 317–320 (Mi phts8170)  

Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)

Электронные свойства полупроводников

Исследование методом электроотражения влияния $\gamma$-облучения на оптические свойства эпитаксиальных пленок GaN

А. Е. Беляевa, Н. И. Клюйa, Р. В. Конаковаa, А. Н. Лукьяновa, Б. А. Данильченкоb, Ю. Н. Свешниковc, А. Н. Клюйd

a Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, 03028 Киев, Украина
b Институт физики Национальной академии наук Украины, 03028 Киев, Украина
c ЗАО "Элма Малахит", Москва, Зеленоград
d Киевский национальный университет им. Т. Шевченко, 03022 Киев, Украина
Аннотация: Представлены результаты измерений спектров электроотражения образцов эпитаксиальных пленок GaN на сапфире, подверженных действию $\gamma$-облучения дозами 10$^5$–2 $\cdot$ 10$^6$ рад. Рассчитанные на основе модели 3 переходов теоретические спектры электроотражения с достаточной точностью совпадают с экспериментальными данными. Полученные в рамках модели величины энергий и уширений переходов дают основание полагать, что в пленках GaN существуют внутренние механические напряжения, значения которых меняются в зависимости от дозы $\gamma$-излучения.
Поступила в редакцию: 27.07.2011
Принята в печать: 16.08.2011
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2012, Volume 46, Issue 3, Pages 302–305
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782612030062
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. Е. Беляев, Н. И. Клюй, Р. В. Конакова, А. Н. Лукьянов, Б. А. Данильченко, Ю. Н. Свешников, А. Н. Клюй, “Исследование методом электроотражения влияния $\gamma$-облучения на оптические свойства эпитаксиальных пленок GaN”, Физика и техника полупроводников, 46:3 (2012), 317–320; Semiconductors, 46:3 (2012), 302–305
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BelKlyKon12}
\by А.~Е.~Беляев, Н.~И.~Клюй, Р.~В.~Конакова, А.~Н.~Лукьянов, Б.~А.~Данильченко, Ю.~Н.~Свешников, А.~Н.~Клюй
\paper Исследование методом электроотражения влияния $\gamma$-облучения на оптические свойства эпитаксиальных пленок GaN
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2012
\vol 46
\issue 3
\pages 317--320
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts8170}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20319101}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2012
\vol 46
\issue 3
\pages 302--305
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782612030062}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts8170
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i3/p317
  • Эта публикация цитируется в следующих 3 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025