|
|
Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 3, страницы 317–320
(Mi phts8170)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Электронные свойства полупроводников
Исследование методом электроотражения влияния $\gamma$-облучения на оптические свойства эпитаксиальных пленок GaN
А. Е. Беляевa, Н. И. Клюйa, Р. В. Конаковаa, А. Н. Лукьяновa, Б. А. Данильченкоb, Ю. Н. Свешниковc, А. Н. Клюйd a Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева НАН Украины, 03028 Киев, Украина
b Институт физики Национальной академии наук Украины,
03028 Киев, Украина
c ЗАО "Элма Малахит", Москва, Зеленоград
d Киевский национальный университет им. Т. Шевченко,
03022 Киев, Украина
Аннотация:
Представлены результаты измерений спектров электроотражения образцов эпитаксиальных пленок GaN на сапфире, подверженных действию $\gamma$-облучения дозами 10$^5$–2 $\cdot$ 10$^6$ рад. Рассчитанные на основе модели 3 переходов теоретические спектры электроотражения с достаточной точностью совпадают с экспериментальными данными. Полученные в рамках модели величины энергий и уширений переходов дают основание полагать, что в пленках GaN существуют внутренние механические напряжения, значения которых меняются в зависимости от дозы $\gamma$-излучения.
Поступила в редакцию: 27.07.2011 Принята в печать: 16.08.2011
Образец цитирования:
А. Е. Беляев, Н. И. Клюй, Р. В. Конакова, А. Н. Лукьянов, Б. А. Данильченко, Ю. Н. Свешников, А. Н. Клюй, “Исследование методом электроотражения влияния $\gamma$-облучения на оптические свойства эпитаксиальных пленок GaN”, Физика и техника полупроводников, 46:3 (2012), 317–320; Semiconductors, 46:3 (2012), 302–305
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts8170 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i3/p317
|
|