Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 4, страницы 494–499 (Mi phts8212)  

Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Поверхность, границы раздела, тонкие пленки

Особенности подвижности электронов в тонком слое кремния в структуре диэлектрик–кремний–диэлектрик

А. В. Леонов, А. Д. Мокрушин, Н. М. Омельяновская

Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов РАН, 142432 Черноголовка, Россия
Аннотация: Представлены результаты исследований подвижности электронов в тонком слое кремния системы металл–диэлектрик–полупроводник–диэлектрик–металл в зависимости от величины продольного и поперечного электрических полей (в широком диапазоне их значений), температуры (в диапазоне от 1.7 до 400 K) и изменения условий $\gamma$-облучения.
Показано, что в интервале температур от 400 до $\sim$100 K подвижность электронов увеличивается в соответствии с механизмом рассеяния на акустических фононах, тогда как при дальнейшем снижении температуры вплоть до температур жидкого гелия подвижность падает вследствие того, что превалирующим становится кулоновское рассеяние электронов на заряженных поверхностных центрах.
Показано также, что в результате $\gamma$-облучения подвижность электронов уменьшается, причем степень этого уменьшения сильно зависит от электрического режима датчика в процессе облучения.
Поступила в редакцию: 03.10.2011
Принята в печать: 10.10.2011
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2012, Volume 46, Issue 4, Pages 478–483
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782612040148
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. В. Леонов, А. Д. Мокрушин, Н. М. Омельяновская, “Особенности подвижности электронов в тонком слое кремния в структуре диэлектрик–кремний–диэлектрик”, Физика и техника полупроводников, 46:4 (2012), 494–499; Semiconductors, 46:4 (2012), 478–483
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{LeoMokOme12}
\by А.~В.~Леонов, А.~Д.~Мокрушин, Н.~М.~Омельяновская
\paper Особенности подвижности электронов в тонком слое кремния в структуре диэлектрик--кремний--диэлектрик
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2012
\vol 46
\issue 4
\pages 494--499
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts8212}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20319134}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2012
\vol 46
\issue 4
\pages 478--483
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782612040148}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts8212
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i4/p494
  • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025