|
|
Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 5, страницы 577–608
(Mi phts8226)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 65 научных статьях (всего в 65 статьях)
Обзоры
Физика эффектов переключения и памяти в халькогенидных стеклообразных полупроводниках. Обзор
Н. А. Богословский, К. Д. Цэндин Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Эффекты переключения и памяти в халькогенидных стеклообразных полупроводниках известны уже почти полвека. Однако до сегодняшнего дня физика этих эффектов остается неизвестной. В последнее время интерес к данному вопросу вызван интенсивными разработками элементов энергонезависимой памяти нового поколения на основе фазового перехода халькогенидное стекло-кристалл. В данной работе приведен обзор основных экспериментальных закономерностей эффектов переключения и памяти, сделан обзор и анализ моделей эффекта переключения. Рассмотрены основные характеристики элементов памяти с изменяемым фазовым состоянием и используемых материалов. На основании этого сформулированы преимущества современных элементов фазовой памяти по сравнению с элементами памяти первого поколения.
Поступила в редакцию: 19.10.2011 Принята в печать: 14.11.2011
Образец цитирования:
Н. А. Богословский, К. Д. Цэндин, “Физика эффектов переключения и памяти в халькогенидных стеклообразных полупроводниках. Обзор”, Физика и техника полупроводников, 46:5 (2012), 577–608; Semiconductors, 46:5 (2012), 559–690
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts8226 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i5/p577
|
|