|
|
Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 5, страницы 629–632
(Mi phts8232)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Электронные свойства полупроводников
Формирование и отжиг радиационных дефектов в легированных оловом кристаллах германия $p$-типа
В. В. Литвиновa, А. Н. Петухa, Ю. М. Покотилоa, В. П. Маркевичb, С. Б. Ластовскийb a Белорусский государственный университет,
220050 Минск, Беларусь
b Научно-практический центр по материаловедению Национальной академии наук Беларуси, 220072 Минск, Беларусь
Аннотация:
Исследовалось влияние олова на формирование и отжиг радиационных дефектов в кристаллах германия $p$-типа, облученных электронами с энергией 6 МэВ при температуре 80 K. Показано, что в облученных кристаллах Ge : Sn, Ga после нагрева до температуры 300 K доминируют акцепторные комплексы SnV с энтальпией ионизации дырок при 0.16 эВ. Эти комплексы исчезали при отжиге облученных кристаллов в интервале температур 30–75$^\circ$C. Отжиг облученных кристаллов в области температур 110–150$^\circ$C приводил к формированию глубоких центров с донорным уровнем при $E_v$ + 0.29 эВ, который предположительно приписывается комплексу олово-межузельный атом галлия.
Поступила в редакцию: 01.11.2011 Принята в печать: 07.11.2011
Образец цитирования:
В. В. Литвинов, А. Н. Петух, Ю. М. Покотило, В. П. Маркевич, С. Б. Ластовский, “Формирование и отжиг радиационных дефектов в легированных оловом кристаллах германия $p$-типа”, Физика и техника полупроводников, 46:5 (2012), 629–632; Semiconductors, 46:5 (2012), 611–614
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts8232 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i5/p629
|
|