|
|
Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 5, страницы 708–713
(Mi phts8247)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
Физика полупроводниковых приборов
Поверхностно облучаемые фотодиоды на основе InAsSb (длинноволновая граница $\lambda_{0.1}$ = 4.5 мкм), работающие при температурах 25–80$^\circ$C
Н. Д. Ильинскаяa, А. Л. Закгеймb, С. А. Карандашевa, Б. А. Матвеевa, В. И. Ратушныйc, М. А. Ременныйa, А. Ю. Рыбальченкоc, Н. М. Стусьa, А. Е. Черняковb a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
b Научно-технологический центр микроэлектроники и субмикронных гетероструктур при Физико-техническом институте им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
c Южно-Российский государственный технический университет (Новочеркасский политехнический институт),
346428 Новочеркасск, Россия
Аннотация:
Проведен анализ вольт-амперных характеристик и температурных зависимостей динамического сопротивления при нулевом смещении для фотодиодов на основе InAsSb, учитывающий сгущение линий тока вблизи анода, с использованием экспериментальных данных о распределении интенсивности положительной и отрицательной люминесценции по поверхности диодов. Обсуждено влияние температуры на эффективность сбора фотогенерированных носителей в диодах, а также влияние конфигурации анода на токовую чувствительность и обнаружительную способность диодов.
Поступила в редакцию: 14.11.2011 Принята в печать: 21.11.2011
Образец цитирования:
Н. Д. Ильинская, А. Л. Закгейм, С. А. Карандашев, Б. А. Матвеев, В. И. Ратушный, М. А. Ременный, А. Ю. Рыбальченко, Н. М. Стусь, А. Е. Черняков, “Поверхностно облучаемые фотодиоды на основе InAsSb (длинноволновая граница $\lambda_{0.1}$ = 4.5 мкм), работающие при температурах 25–80$^\circ$C”, Физика и техника полупроводников, 46:5 (2012), 708–713; Semiconductors, 46:5 (2012), 690–695
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts8247 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i5/p708
|
|