Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 7, страницы 937–939 (Mi phts8284)  

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления

О возможностях экспериментального определения величины спонтанной поляризации политипов карбида кремния

С. Ю. Давыдовa, А. А. Лебедевa, О. В. Посредникb

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, 194021 Санкт-Петербург, Россия
b Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ», 197376 Санкт-Петербург, Россия
Аннотация: Рассматриваются гетеропереход вида NH-SiC/3C-SiC и гетероструктура типа NH-SiC/3C-SiC/NH-SiC ($N$ = 2, 4, 6, 8), сфабрикованные на основе политипов карбида кремния. Для гетеропереходов рассматриваются две возможности: контактной плоскостью политипа NH является Si-, либо С-плоскость. При этом энергии квазилокальных уровней, возникающих в квантовых ямах на интерфейсе, будут отличаться. Измерив различие этих энергий, можно определить величину спонтанной поляризации $P_{\mathrm{sp}}$, присущей политипу NH. При наличии поля спонтанной поляризации квазилокальные уровни в левой и правой квантовых ямах гетероструктуры имеют различные энергии. Показано, что если поместить гетероструктуру во внешнее электрическое поле, то можно, вычислив разность энергий этих уровней, определить величину спонтанной поляризации. Обсуждаются экспериментальные возможности определения $P_{\mathrm{sp}}$ по предложенному теоретическому сценарию.
Поступила в редакцию: 19.10.2011
Принята в печать: 26.12.2011
Англоязычная версия:
Semiconductors, 2012, Volume 46, Issue 7, Pages 913–916
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063782612070068
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. Ю. Давыдов, А. А. Лебедев, О. В. Посредник, “О возможностях экспериментального определения величины спонтанной поляризации политипов карбида кремния”, Физика и техника полупроводников, 46:7 (2012), 937–939; Semiconductors, 46:7 (2012), 913–916
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{DavLebPos12}
\by С.~Ю.~Давыдов, А.~А.~Лебедев, О.~В.~Посредник
\paper О возможностях экспериментального определения величины спонтанной поляризации политипов карбида кремния
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 2012
\vol 46
\issue 7
\pages 937--939
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts8284}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20319206}
\transl
\jour Semiconductors
\yr 2012
\vol 46
\issue 7
\pages 913--916
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063782612070068}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts8284
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i7/p937
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025