|
|
Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 8, страницы 1108–1110
(Mi phts8314)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 6 научных статьях (всего в 6 статьях)
Изготовление, обработка, тестирование материалов и структур
Влияние различных обработок на свойства диодов Шоттки
И. Г. Пашаев Бакинский государственный университет, AZ-1148 Баку, Азербайджан
Аннотация:
Изучена причина появления избыточного тока вблизи температуры кристаллизации аморфного металлического сплава PbSb и одновременно объяснено влияние ультразвуковой обработки на свойства кремниевых солнечных элементов на основе диодов Шоттки с аморфным металлическим сплавом ($a$-PbSb)–$n$-Si. Установлено, что появление избыточного тока в диодах Шоттки ($a$-PbSb)–$n$-Si под действием термического отжига связано с изменениями структуры аморфной пленки металла при переходе в поликристаллическое состояние. Влияние ультразвуковой обработки на фотоэлектрические свойства солнечных элементов зависит от выбранного режима обработки.
Поступила в редакцию: 08.11.2011 Принята в печать: 21.11.2011
Образец цитирования:
И. Г. Пашаев, “Влияние различных обработок на свойства диодов Шоттки”, Физика и техника полупроводников, 46:8 (2012), 1108–1110; Semiconductors, 46:8 (2012), 1085–1087
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts8314 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i8/p1108
|
|