|
|
Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 9, страницы 1181–1185
(Mi phts8327)
|
|
|
|
Полупроводниковые структуры, низкоразмерные системы, квантовые явления
Уточненная модель вольт-амперной характеристики фотоприемников на основе структур с квантовыми ямами
В. Б. Куликов АО "ЦНИИ "Циклон", 107497 Москва, Россия
Аннотация:
Экспериментально исследованы температурные зависимости темнового тока фотодетекторов инфракрасного излучения на основе структур с квантовыми ямами. Установлено, что предэкспоненциальный множитель в аналитическом выражении для вольт-амперной характеристики детектора линейно зависит от температуры. На основании полученных результатов было сделано предположение, что температурная зависимость темнового тока детекторов определяется термогенерацией электронов в зону с двумерной плотностью состояний. Указанное предположение позволило предложить уточненную модель вольт-амперной характеристики, учитывающую особенности термогенерации носителей в зону с двумерной плотностью состояний, полевую зависимость термической энергии активации основного состояния в квантовой яме и дрейфовой скорости носителей в зоне проводимости в барьерах.
Поступила в редакцию: 01.02.2012 Принята в печать: 14.02.2012
Образец цитирования:
В. Б. Куликов, “Уточненная модель вольт-амперной характеристики фотоприемников на основе структур с квантовыми ямами”, Физика и техника полупроводников, 46:9 (2012), 1181–1185; Semiconductors, 46:9 (2012), 1158–1162
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts8327 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i9/p1181
|
| Статистика просмотров: |
| Страница аннотации: | 13 | | PDF полного текста: | 4 |
|