|
|
Физика и техника полупроводников, 2012, том 46, выпуск 11, страницы 1398–1401
(Mi phts8364)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)
XVI симпозиум "Нанофизика и наноэлектроника", Нижний Новгород, 12-16 марта 2012 г.
Определение сечения возбуждения фотолюминесценции иона Er в кремнии в случае однородного и неоднородного оптического возбуждения
Б. А. Андреев, З. Ф. Красильник, Д. И. Крыжков, В. П. Кузнецов, А. Н. Яблонский Институт физики микроструктур Российской академии наук,
603950 Нижний Новгород, Россия
Аннотация:
Исследованы зависимости интенсивности фотолюминесценции иона эрбия в структурах Si : Er/Si в случае однородного (по поверхности образца) и неоднородного оптического возбуждения. Показано, что способ возбуждения существенно влияет на вид получаемых зависимостей. Обсуждается способ определения сечения возбуждения иона Er как при непрерывной, так и при импульсной оптической накачке. Полученное значение эффективного сечения возбуждения ионов эрбия в кремнии $\sigma$ = 5 $\cdot$ 10$^{-14}$ см$^2$ (при температуре 8 K) на порядок превышает значения, известные из литературы.
Поступила в редакцию: 25.04.2012 Принята в печать: 25.04.2012
Образец цитирования:
Б. А. Андреев, З. Ф. Красильник, Д. И. Крыжков, В. П. Кузнецов, А. Н. Яблонский, “Определение сечения возбуждения фотолюминесценции иона Er в кремнии в случае однородного и неоднородного оптического возбуждения”, Физика и техника полупроводников, 46:11 (2012), 1398–1401; Semiconductors, 46:11 (2012), 1372–1375
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/phts8364 https://www.mathnet.ru/rus/phts/v46/i11/p1398
|
|