Физика и техника полупроводников
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Физика и техника полупроводников:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Физика и техника полупроводников, 1987, том 21, выпуск 9, страницы 1555–1558 (Mi phts858)  

Растворимость осмия в кремнии

С. А. Азимов, М. С. Юнусов, Г. Нуркузиев
Аннотация: Исследованы растворимость и коэффициент сегрегации осмия в кремнии в интервале температур ${1150\div1280^{\circ}}$С, а также свойства электрически активных центров, создаваемых Os в кремнии. Установлено, что коэффициенты сегрегации Os в $n$- и $p$-Si различаются почти на порядок. Исследована температурная зависимость подвижности носителей в $n$-Si$\langle$Os$\rangle$ и в $p$-Si$\langle$Os$\rangle$. Обсуждены полученные результаты. Сделан вывод о том, что центр ${E_{c}-0.53}$ эВ представляет собой комплекс «узельный атом примеси + вакансия», деформированный за счет эффекта Яна–Теллера.
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: С. А. Азимов, М. С. Юнусов, Г. Нуркузиев, “Растворимость осмия в кремнии”, Физика и техника полупроводников, 21:9 (1987), 1555–1558
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{1}
\by С.~А.~Азимов, М.~С.~Юнусов, Г.~Нуркузиев
\paper Растворимость осмия в~кремнии
\jour Физика и техника полупроводников
\yr 1987
\vol 21
\issue 9
\pages 1555--1558
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/phts858}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts858
  • https://www.mathnet.ru/rus/phts/v21/i9/p1555
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Физика и техника полупроводников Физика и техника полупроводников
    Статистика просмотров:
    Страница аннотации:70
    PDF полного текста:58
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2026