Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в Журнал технической физики, 2019, том 45, выпуск 19, страницы 17–20
DOI: https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.19.48311.17906
(Mi pjtf5303)
 

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Структурные изменения в пленках Si–CuSi при интеркаляции ионов лития

Э. Ю. Бучинa, А. А. Мироненкоa, В. В. Наумовa, А. С. Рудыйa, И. С. Федоровb

a Ярославский филиал Физико-технологического института им. К.А. Валиева РАН, Ярославль, Россия
b Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова
Аннотация: Исследована возможность использования в качестве анодного материала для литий-ионных аккумуляторов с жидким электролитом композитных пленок, представляющих собой аморфный кремний, армированный кристаллическими включениями силицида меди. Пленки изготавливались методом послойного магнетронного напыления аморфного кремния и меди с последующим низкотемпературным (100–200$^\circ$C) отжигом структуры. В ходе испытаний анодов обнаружен эффект длительного интенсивного роста их обратимой емкости. Для описания эффекта предложена феноменологическая модель, основанная на разнонаправленной миграции атомов кремния и меди в неоднородном поле упругих механических напряжений, возникающих при циклировании электрода.
Ключевые слова: нанокомпозитные пленки, емкостный профиль, вакансионные пустоты, градиент упругих напряжений, миграция атомов.
Финансовая поддержка Номер гранта
Министерство образования и науки Российской Федерации 0066-2019-0002
Работа выполнена в рамках государственного задания Физико-технологическому институту им. К.А. Валиева РАН Минобрнауки РФ по теме № 0066-2019-0002.
Поступила в редакцию: 05.06.2019
Исправленный вариант: 18.06.2019
Принята в печать: 18.06.2019
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2019, Volume 45, Issue 10, Pages 973–976
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785019100043
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Э. Ю. Бучин, А. А. Мироненко, В. В. Наумов, А. С. Рудый, И. С. Федоров, “Структурные изменения в пленках Si–CuSi при интеркаляции ионов лития”, Письма в ЖТФ, 45:19 (2019), 17–20; Tech. Phys. Lett., 45:10 (2019), 973–976
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{BucMirNau19}
\by Э.~Ю.~Бучин, А.~А.~Мироненко, В.~В.~Наумов, А.~С.~Рудый, И.~С.~Федоров
\paper Структурные изменения в пленках Si--CuSi при интеркаляции ионов лития
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2019
\vol 45
\issue 19
\pages 17--20
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf5303}
\crossref{https://doi.org/10.21883/PJTF.2019.19.48311.17906}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=41300887}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2019
\vol 45
\issue 10
\pages 973--976
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785019100043}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf5303
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v45/i19/p17
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025