|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Коллапсирующие домены Ганна как механизм самоподдержания проводящего состояния в обратносмещенных высоковольтных GaAs-диодах
М. С. Иванов, А. В. Рожков, П. Б. Родин Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Аннотация:
Выполнено численное моделирование переключения высоковольтного GaAs-диода в проводящее состояние в режиме задержанного ударно-ионизационного пробоя. Проведено сравнение результатов с экспериментальными данными. Показано, что эффект длительного (до 100 ns) самоподдержания проводящего состояния диода после переключения обусловлен возникновением в электронно-дырочной плазме узких (порядка микрометра) ионизирующих доменов Ганна – так называемых коллапсирующих доменов. Ударная ионизация в коллапсирующих доменах и в краевых (катодном и анодном) доменах сильного электрического поля ($\sim$ 300 kV/cm) поддерживает высокую концентрацию неравновесных носителей ($\ge$ 10$^{17}$ сm$^{-3}$) в течение всей длительности импульса приложенного напряжения обратной полярности.
Ключевые слова:
высоковольтные GaAs-диоды, lock-on эффект, эффект Ганна.
Поступила в редакцию: 28.07.2022 Исправленный вариант: 01.09.2022 Принята в печать: 01.09.2022
Образец цитирования:
М. С. Иванов, А. В. Рожков, П. Б. Родин, “Коллапсирующие домены Ганна как механизм самоподдержания проводящего состояния в обратносмещенных высоковольтных GaAs-диодах”, Письма в ЖТФ, 48:20 (2022), 31–34
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf7423 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v48/i20/p31
|
|