Эффект магнитомиграции при отжиге гранулированных пленок Co–Cu

Исследовано влияние магнитного отжига на состав гранулированных пленок Co–Cu. Пленки осаждали ионно-плазменным методом на горячие кремниевые подложки, а затем подвергали длительному низкотемпературному (220$^\circ$C) отжигу в вакууме в присутствии постоянного магнита. Напряженность поля у поверхности пленок составляла 500–550 Oe, его силовые линии были параллельны плоскости подложки. Обнаружен эффект магнитомиграции основных компонентов пленки в процессе отжига. Кобальт и медь, в силу различия в магнитных свойствах, разнонаправленно мигрировали по толщине пленки. В зависимости от времени отжига в отдельных случаях это приводило к фактическому разделению пленки на два подслоя.